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多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測(cè)試儀高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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溫控探針臺(tái)冷熱臺(tái)測(cè)試儀器

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溫控探針臺(tái)冷熱臺(tái)測(cè)試儀器，通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度大，和樣品的電接觸性較好。
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華測(cè)儀器系列半導(dǎo)體封裝材料高低溫冷熱臺(tái)

更新時(shí)間：2024-09-05

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華測(cè)儀器系列半導(dǎo)體封裝材料高低溫冷熱臺(tái)，它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量。冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
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