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簡要描述：華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表。
產(chǎn)品型號：HGTZ-800廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-08-09訪 問 量：2633產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
一、產(chǎn)品簡介
華測儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
華測儀器——高溫四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
HGTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
二、產(chǎn)品特點
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實現(xiàn)快速冷卻。
溫度控制
過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度（遠(yuǎn)比普通加溫方式）。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻
可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體，靜態(tài)或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
三、功能特點
1. 多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測試
2. 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度；
3. 可以測量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；
4. 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測量功能；
5. 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度準(zhǔn)；
6. 儀器可自動計算試樣的電阻率pV；
7. 10寸觸摸屏設(shè)計，一體化設(shè)計機(jī)械結(jié)構(gòu)，穩(wěn)定、可靠；
8. 程控電子升壓技術(shù)，紋波低、TVS防護(hù)系統(tǒng)，保證儀器an全性；
9. 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
10. Ihuace pro控制分析軟件。
四、軟件功能
HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合高分子材料的各項測試需求，具備穩(wěn)定性與an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。
多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
即時監(jiān)控：系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽，無須等待；
圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，立即對狀態(tài)說明，了解測試狀態(tài)；
使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報警功能。
五、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
整體為桌面型設(shè)計，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結(jié)構(gòu)，滿足實驗室無灰塵排放的要求。
內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實現(xiàn)和其 他測試設(shè)備的集成控
定點控溫模式下，可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。
控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
在1000度下可以連續(xù)工作時間不低于1小時。
采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。
樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
配備真空泵，水冷設(shè)備，配備超溫、缺水、過流等報警保護(hù)裝置。
溫度均勻區(qū)：60mm*100mm。
六、試驗
七、產(chǎn)品應(yīng)用
八、技術(shù)指標(biāo)
溫度范圍 | 室溫-1200℃，（反射爐加溫）配水冷機(jī)） |
控溫精度 | ±0.5℃ |
測量精度 | ±0.25℃ |
升溫斜率 | 800℃/min（可10秒達(dá)800度） |
降溫斜率 | 1-200℃/min（可自調(diào)整） |
測量精度 | 0.5% |
樣品規(guī)格 | 直徑：20mm以內(nèi)；厚度：5mm以內(nèi) |
電極材料 | 鉑金 |
測量方式 | 2線-4線測量方式 |
供電 | 220V±10%，50Hz |
工作環(huán)境 | 0℃-55℃ |
存儲條件 | -40℃-70℃ |
尺寸 | 750mmX660mmX360mm |
重量 | 25kg |
華測高溫四探針測試儀器
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