導(dǎo)電與防靜電材料體積電阻率測(cè)試儀和高阻計(jì)有什么不同？
更新時(shí)間：2022-10-22 點(diǎn)擊次數(shù)：901
導(dǎo)電與防靜電材料體積電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率），表面比電阻的大小可間接反映試驗(yàn)材料表面靜電泄漏時(shí)間的長(zhǎng)短，從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電。
導(dǎo)電與防靜電材料體積電阻率測(cè)試儀采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試，其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高阻計(jì)兩部分組成。根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。
儀器可同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A／D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值。
從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。
電工設(shè)備中的絕緣缺陷，有的是先天性的，是在制造過(guò)程中由于材料、工藝等原因潛伏下來(lái)的；有的是后天性的，是在運(yùn)行過(guò)程中由于電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、大氣影響（如光照、潮濕、臟污影響）、溫度、化學(xué)等因素造成的。及早發(fā)現(xiàn)這些缺陷，及時(shí)進(jìn)行維護(hù)與檢修，才能保證設(shè)備運(yùn)行。
常用的試驗(yàn)方法有絕緣電阻測(cè)量、吸收比測(cè)量、泄漏電流的測(cè)量、介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)量和局部放電測(cè)量。泄漏電流測(cè)量測(cè)量絕緣電阻的另一種方式。將大于、等于10千伏的整流高壓電源接到絕緣體上，用微安表測(cè)量流經(jīng)絕緣結(jié)構(gòu)的泄漏電流，以判斷絕緣電阻的大小。
與高阻計(jì)不同的是，此種方法施加電壓較高，可以發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷。
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